| 比特位 | 名称 | 描述 |
|---|---|---|
| 0 | 起始 | 必须为1 |
| 1 | APnDP | 0: 访问DP 1: 访问AP |
| 2 | RnW | 0: 写请求 1: 读请求 |
| 4:3 | A(3:2) | DP或AP寄存器的地址 |
| 5 | Parity | 前面比特位的检验位 |
| 6 | Stop | 0 |
| 7 | Park | 不能由主机驱动，由于有上拉，目标永远读1 |
| 比特位 | 名称 | 描述 |
|---|---|---|
| 0..2 | ACK | 001：失败 010：等待 100：成功 |
| 比特位 | 名称 | 描述 |
|---|---|---|
| 0..31 | WDATA/RDATA | 写或读的数据 |
| 32 | Parity | 32位数据的奇偶校验位 |
| A(3:2) | 读/写 | SELECT 寄存器的CTRLSEL位 | 寄存器 | 描述 |
|---|---|---|---|---|
| 00 | 读 | ID代码寄存器, IDCODE | ||
| 00 | 写 | 中止寄存器, ABORT | ||
| 01 | 读/写 | 0 | DP控制/状态寄存器, CTRL/STAT | － 请求一个系统或调试的上电操作 － 配置AP访问的操作模式 － 控制比较，校验操作 － 读取一些状态位(溢出，上电响应) |
| 01 | 读/写 | 1 | 线控制寄存器, WCR | 配置串行通信物理层协议(如转换时间长度等) |
| 10 | 读 | 读再发寄存器, RESEND | 允许从一个错误的调试传输中恢复数据而不用重复最初的AP传输 | |
| 10 | 写 | AP 选择寄存器, SELECT | 选择当前的访问端口和有效的4字长寄存器窗口 | |
| 11 | 读 | 读缓冲，RDBUFF | 由于AP的访问具有传递性(当前AP读操作的结果会在下次AP传输时传出), 因此这个寄存器非常必要。这个寄存器会从AP捕获上一次读操作的数据结果，因此可以获得数据而不必再启动一个新的AP传输 |
| 比特位 | 功能 | 描述 |
|---|---|---|
| 31:5 | - | 保留, SBZ |
| 4 | ORUNERRCLR | 向该位写 1，将STICKYORUN 溢出错误标志清零 |
| 3 | WDERRCLR | 向该位写 1，将WDATAERR 写数据错误标志清零 |
| 2 | STKERRCLR | 向该位写 1，将STICKYERR sticky 错误标志清零 |
| 1 | STKCMPCLR | 向该位写 1，将STICKYCMP sticky 比较标志清零 |
| 0 | DAPABORT | 向该位写1 来产生DAP 中止。它将中止当前的AP 处理。该操作只有当处理器在扩展周期上接收到WAIT 响应时才执行 |
| 比特位 | 功能 | 描述 |
|---|---|---|
| 31:28 | Version | 版本代码。该区域的含义由实现定义 |
| 27:12 | PARTNO | DP 的元件型号。该值由调试端口的设计人员提供，并且不可以改变 |
| 11:1 | MANUFACTURER | JEDEC 厂商ID，这个11 位的JEDEC 代码用来标识器件的厂商, 见JEDEC 厂商ID |
| 0 | - | 始终为0b1 |
| JEP-106 区域 | 位 | ARM 公司注册的值 |
|---|---|---|
| 扩展代码 | 4位，11:8 | b0100，0x4 |
| 标识代码 | 7位，7:1 | b0111011，0x3B |
| 位 | 访问 | 功能 | 描述 |
|---|---|---|---|
| 31 | RO | CSYSPWRUPACK | 系统掉电确认 |
| 30 | R/W | CSYSPWRUPREQ | 系统上电请求 复位之后，该位为低电平（0） |
| 29 | RO | CDBGPWRUPACK | 调试上电确认 |
| 28 | R/W | CDBGPWRUPREQ | 调试上电请求 复位之后，该位为低电平（0） |
| 27 | RO | CDBGRSTACK | 调试复位确认 |
| 26 | R/W | CDBGRSTREQ | 调试复位请求 复位之后，该位为低电平（0） |
| 25:24 | - | - | 保留，RAZ/SBZP |
| 21:12 | R/W | TRNCNT | 处理计数器 复位之后，该区域的值不可预知 |
| 11:8 | R/W | MASKLANE | 表示推动比较和推动验证操作中被屏蔽的字节。见推动比较和推动验证操作的MASKLANE 和位屏蔽部分。 复位之后，该区域的值不可预知 |
| 7 | RO | WDATAERR | 如果出现写数据错误，该位置位。它在以下情况下置位： - 写操作的数据阶段出现数据帧的奇偶校验错误 - 已经被 DP 接受的写操作然后在没有提交给AP 的情况下放弃。 该位可通过向中止寄存器的WDERRCLR写1 来清零。见中止寄存器，ABORT 复位之后，该位为低电平（0）。 |
| 6 | RO | READOK | 如果前面的 AP 或RDBUFF 得到OK 响应，则该位置位。如果不是OK 响应，该位清零。该标志始终表示对上一次 AP 读访问的响应。 复位之后，该位为低电平（0） |
| 5 | RO | STICKYERR | 如果AP 处理返回一个错误，则该位置位。为了将其清零： 在 JTAG-DP 上：向该寄存器的这个位写1。 在 SW-DP 上： 向中止寄存器的STKERRCLR 写1，见中止寄存器，ABORT。 复位之后，该位为低电平（0） |
| 4 | RO | STICKYCMP | 如果推动比较或推动验证操作时出现相等的情况，该位置位。为了将其清零： 在 JTAG-DP 上：向该寄存器的这个位写1。 在 SW-DP 上： 向中止寄存器的STKCMPCLR 写1，见中止寄存器，ABORT。 复位之后，该位为低电平（0） |
| 3:2 | R/W | TRNMODE | 该区域用来设置AP 操作的传输模式，见传输模式（TRNMODE） 复位之后，该位为低电平（0） |
| 1 | RO | STICKYORUN | 如果溢出检测使能（见该寄存器的位0），则在出现溢出时该位置位。为了将其清零： 在 JTAG-DP 上：向该寄存器的这个位写1。 在 SW-DP 上： 向中止寄存器的ORUNERRCLR 写1，见中止寄存器，ABORT。 复位之后，该位为低电平（0） |
| 0 | R/W | ORUNDETECT | 该位设为1 来使能溢出检测。 复位之后，该位为低电平（0） |
| MASKLANE | 含义 | 用于比较操作的屏蔽结果 |
|---|---|---|
| b1xxx | 比较中包含字节通道3 | 0xFF- - - - - - |
| bx1xx | 比较中包含字节通道2 | 0x- - FF- - - - |
| bxx1x | 比较中包含字节通道1 | 0x- - - - FF- - |
| bxxx1 | 比较中包含字节通道0 | 0x- - - - - - FF |
| TRNMODE | AP 传输模式 |
|---|---|
| b00 | 常规操作 |
| b01 | 推动验证操作 |
| b10 | 推动比较操作 |
| b11 | 保留 |
| 位 | 功能 | 描述 |
|---|---|---|
| 31:24 | APSEL | 选择当前AP 该区域的复位值不可预知 |
| 23:8 | - | 保留，SBZ/RAZ |
| 7:4 | APBANKSEL | 在当前的AP 上选择有效的4 字寄存器窗口。 该区域的复位值不可预知 |
| 3:1 | - | 保留，SBZ/RAZ |
| 0 | CTRLSEL | SW-DP 调试端口的地址组选择，见CTRL/STAT，只用于SW-DP。 复位之后，该位为 b0。AP 选择寄存器是只写的，因此，不能读出这个值 |
| CTRLSEL | 地址 b01 的DP 寄存器 |
|---|---|
| 0 | CTRL/STAT，见控制/状态寄存器，CTRL/STAT |
| 1 | WCR，见线控制寄存器，WCR（只用于SW-DP） |
| 位 | 功能 | 描述 |
|---|---|---|
| 31:10 | - | 保留，SBZ/RAZ |
| 9:8 | TURNROUND | 掉转三态周期，见掉转三态周期，TURNROUND 复位之后，该区域为 b00 |
| 7:6 | WIREMODE | 表示与DP 相连的串行线的操作模式。见线操作模式，WIREMODE 复位之后，该区域为 b01 |
| 5:3 | - | 保留，SBZ/RAZ |
| 2:0 | PRESCALER | 保留，SBZ/RAZ |
| TURNROUND | 掉转周期 |
|---|---|
| b00 | 1 个采样周期 |
| b01 | 2 个采样周期 |
| b10 | 3 个采样周期 |
| b11 | 4 个采样周期 |
| WIREMODE | 线操作模式 |
|---|---|
| b00 | 保留 |
| b01 | 同步（无过采样（oversampling）） |
| b1x | 保留 |